专业RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析 内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片 电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷

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3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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专业RoHS检测 内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实

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测量元素：从硫到铀等 75 种元素 元素含量分析范围：1ppm-99.99 RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限高达 1ppm 测量时间：60-300s 能量分辨率：165±5eV 管压：5-50 kV 管流：50-1000μA

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如果您需要快速、实时和高精度的分析，S-MOBILE是您的第一选择。同时，它在国家安全（Home Land Security）和反仿冒(anti-counterfeiting)应用上能为您提供佳解决方案。 

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新款快速手持式X射线荧光分析仪 - X-MET7000 eXpress款X-MET7000 eXpress在检测痕量元素时表现出佳性能，同时保证分析速度不受影响。X-MET7000 eXpress 使用牛津仪器 40 kV 的X射线光管和高分辨率高计数率硅漂移探测器(SDD)。我们的新款手持式X射线荧光分析仪拥有以下

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用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。

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多多晶体物质进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试

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